yeg
2026-09-01 0fcd0642efdff8d4e0584fa991aaea2178bc932b
ruoyi-system/src/main/java/com/ruoyi/system/mapper/TTestMapper.java
@@ -14,9 +14,13 @@
import com.ruoyi.system.domain.TTestCollectorSource;
import com.ruoyi.system.domain.TTestCollectorExceptionInterval;
import com.ruoyi.system.domain.TTestReceptionInterval;
import com.ruoyi.system.domain.TTestLogicStepMapping;
import com.ruoyi.system.domain.TTestBackfillCursor;
import com.ruoyi.system.domain.TTestIntegrityIssue;
import com.ruoyi.system.domain.TDetectionChannel;
import com.ruoyi.system.domain.TTestDataRevisionAction;
import com.ruoyi.system.domain.TTestConsoleImportRecord;
import com.ruoyi.system.domain.TTestDataOverride;
import com.ruoyi.system.domain.vo.TestBatteryOptionVo;
import com.ruoyi.system.domain.vo.TestChannelOptionVo;
import com.ruoyi.system.domain.vo.TestCollectorOptionVo;
@@ -54,7 +58,15 @@
    List<TTestWarningThreshold> selectTestThresholds(Long testId);
    /** 按来源和起始边界顺序返回测试接收区间。 */
    List<TTestReceptionInterval> selectTestReceptionIntervals(Long testId);
    /** 查询当前正在接收的测试,供接收调度绑定测试事实。 */
    List<Long> selectReceivingTestIds();
    List<java.util.Map<String, Object>> selectPersistedRecords(@org.apache.ibatis.annotations.Param("testId") Long testId);
    List<java.util.Map<String, Object>> selectPersistedSteps(@org.apache.ibatis.annotations.Param("testId") Long testId);
    List<java.util.Map<String, Object>> selectPersistedCycles(@org.apache.ibatis.annotations.Param("testId") Long testId);
    List<TTestResult> selectTestResults(TTestResult result);
    String selectLogicStepMappingsJson(Long testId);
    int updateLogicStepMappings(@Param("testId") Long testId, @Param("mappingsJson") String mappingsJson,
            @Param("updateBy") String updateBy, @Param("updateTime") Date updateTime);
    int countTestTypeEnabled(Long testTypeId);
    int countUserEnabled(Long userId);
    int countBatteryInEnabledGroup(@Param("groupId") Long groupId, @Param("batteryNo") String batteryNo);
@@ -132,12 +144,15 @@
    int updateTestNaturallyEnded(@Param("testId") Long testId, @Param("endedAtUtc") Date endedAtUtc);
    String selectSampleContentHash(@Param("channelId") Long channelId, @Param("btsTestId") String btsTestId,
            @Param("sequenceId") Long sequenceId);
    /** 按测试事实查询通道序号,避免补采重复写入已即时接收的采样。 */
    String selectTestSampleContentHash(@Param("testId") Long testId, @Param("channelId") Long channelId,
            @Param("sequenceId") Long sequenceId);
    int insertBtsSample(@Param("testId") Long testId, @Param("bindingId") Long bindingId,
            @Param("channelId") Long channelId, @Param("intervalId") Long intervalId,
            @Param("btsTestId") String btsTestId, @Param("sequenceId") Long sequenceId,
            @Param("deviceTimeUtc") Date deviceTimeUtc, @Param("deviceTimeRaw") String deviceTimeRaw,
            @Param("receivedAtUtc") Date receivedAtUtc, @Param("cycleNo") Integer cycleNo,
            @Param("stepNo") Integer stepNo, @Param("stepType") String stepType,
            @Param("stepNo") Integer stepNo, @Param("stepType") String stepType, @Param("stepName") String stepName,
            @Param("testTimeMs") Long testTimeMs, @Param("voltageV") java.math.BigDecimal voltageV,
            @Param("currentA") java.math.BigDecimal currentA, @Param("capacityAh") java.math.BigDecimal capacityAh,
            @Param("energyWh") java.math.BigDecimal energyWh, @Param("contentSha256") byte[] contentSha256);
@@ -183,4 +198,25 @@
    int resolveIntegrityIssue(@Param("issueId") Long issueId, @Param("resolvedAtUtc") Date resolvedAtUtc);
    int countOpenIntegrityIssues(Long testId);
    int countOpenExceptions(Long testId);
    int insertDataRevisionAction(TTestDataRevisionAction action);
    List<TTestDataRevisionAction> selectDataRevisionActions(TTestDataRevisionAction query);
    TTestDataRevisionAction selectDataRevisionActionById(Long actionId);
    int upsertDataOverride(TTestDataOverride override);
    List<TTestDataOverride> selectDataOverrides(@Param("testId") Long testId,
            @Param("dataType") String dataType);
    int deleteBtsSamplesByIds(@Param("testId") Long testId, @Param("sampleIds") List<Long> sampleIds);
    int deleteBtsMeasurementsBySampleIds(@Param("sampleIds") List<Long> sampleIds);
    int deleteCollectorSamplesByIds(@Param("testId") Long testId, @Param("sampleIds") List<Long> sampleIds);
    Long selectBtsSampleIdByDeviceChannelSequence(@Param("testId") Long testId,
            @Param("deviceId") Long deviceId, @Param("channelNo") Long channelNo,
            @Param("sequenceId") Long sequenceId);
    List<Long> selectBtsSampleIdsByDeviceChannelStep(@Param("testId") Long testId,
            @Param("deviceId") Long deviceId, @Param("channelNo") Long channelNo,
            @Param("cycleNo") Integer cycleNo, @Param("stepNo") Integer stepNo);
    List<Long> selectBtsSampleIdsByDeviceChannelCycle(@Param("testId") Long testId,
            @Param("deviceId") Long deviceId, @Param("channelNo") Long channelNo,
            @Param("cycleNo") Integer cycleNo);
    int insertConsoleImportRecord(TTestConsoleImportRecord record);
    int countTestBatteryNo(@Param("testId") Long testId, @Param("batteryNo") String batteryNo);
}